03-5608-1315
インフォメーション

 
ホーム ビジネスパートナー 会社案内 催事情報 ネットショップ 募集情報 サイトマップ
 
ホーム>光ファイバー製造評価装置>光ファイバ特性システム
  光ファイバ特性評価システム 
   有効コア断面積(Aeff)・開口数(NA)・波長減衰特性・MFD・CutOff波長の評価に
 製品カタログ(PDF171KB)
 システム導入までの流れ
 見積り依頼

 < 製品概要 >
  100GbE伝送が実用化されようとしている今日、SN比を抑制する長距離光伝送には高い光出力が必要です。
  しかしながら有効コア断面積が不十分であればDWDM伝送によるファイバフューズ等の現象により伝送容量の拡大に限界が生じてきています。
  フューモードファイバや、低クロストーク化など研究開発が進んでいるマルチコア光ファイバにおいて、Aeff・NA・Spectral Attenuation・CutOff・MFDの測定は重要です。
  測定はTIA/IEC/ITU標準のFarFieldScan方式やカットバック法に基づいて行われており、研究開発と製造のどちらにも最適な評価システムです。

 <機能・特長>
  ・被測定ファイバとの結合はV溝固定式の「FiberCellTM」を採用。効率的で簡単にセットできる仕組みです。
・標準光源はTungstenLamp(for CutOff波長)や、850nm帯、1550nm帯など様々な構成ラインナップがあります。
・Aeff・MFD・NA測定はFar Field Scan方式で、Aeffは80dB以上でレンジを有し、NAは0.0025度ステップのスキャンで測定します。
・新しいDSP(デジタルシグナルプロセッサ)と受光技術の向上により測定時間の大幅短縮を実現してます。
  ・上記技術の採用により温度ドリフト及び機械的振動の影響を受けず、高い安定性と再現性を実現してます。

  <仕様>  Spectral 減衰率 CutOff波長 Aeff・MFD NA
  波長レンジ 1150nm〜1650nm 1000nm〜1650nm 1150nm〜1650nm 850nm or 1000〜1650nm
  スキャン・ステップ 0.001nm 0.001nm 0.0025度 0.0025度
  ダイナミックレンジ 50dB  35dB 50dB(80dBオプション) 30dB
  絶対確度 ±0.03dB ±0.5nm ±2% ±0.01
  測定再現性 0.03dB <10nm <0.05um <0.005
  ワークテーブル 150cm x 49cm x 49cm, 重量:約35kg
  動作環境 +10〜+55℃、0〜80%RH(結露なきこと)
 


サイトマップ English 個人情報保護方針及び個人情報の取り扱いについて
COPYRIGHT© MIKI Inc, ALL RIGHTS RESERVED.