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ホーム>光デバイス評価システム/光測定器>MPOコネクタ反射減衰量・挿入損失測定システム
  MPOコネクタ反射減衰量・挿入損失測定システム
MPOコネクタやマルチコアファイバなど、多芯系の反射減衰量・挿入損失評価を全芯リアルタイムでモニタしながら測定できるテストシステムです。

   改廃が速い光業界に求められる光デバイスは、測定項目やポート数など多様化が進む一方です。せっかく導入したシステムでも運用頻度が少なくて
  は勿体ないですよね!
  当社測定システムは、制御系や測定系を変えるだけで長期信頼性試験用測定システムにも利用出来たりと、設備を効果的に運用出来ます。

  < 導入による様々な利点 >       < 製品概要 >
   ・テスト費用を最小限に抑える。      マルチチャンネル光パワーメータの採用により、全サポートの一括同時測定が可能とな
   ・シンプルな測定系により高い安定性を確保する。       りました。
   ・ソフトウェア制御による簡単操作。      高出力安定化光源と高品質光デバイスの採用により、よりシンプルな測定系を実現しま
   ・測定システムを多重多様に最適化出来る。       す。
         検査工程のワークパソコンでも簡単に操作出来る日本語アプリケーションソフトが付い
          ています。
         ※測定用光コードやパソコンは標準構成品から省くことも出来ます。 お客様の状況・
        必要性に応じ 、オーバースペックにならずコストパフォーマンスの高いシステムを提供
          しております。

  < 機能・特長 >  
   ・ロットNo、シリアルNo、顧客名、検査者名などの情報も測定データと  ⇒測定結果のDB管理が簡単。勿論Excelで開く事が出来ます。 
   一緒にテキストファイルに保存!
 
 ・合否判定値やリターンロス測定基準値の設定、チャンネル数の指定や
 再測定が行えます!
 ⇒検査業務フローの簡素化。 
   ・2波長同時測定(1310/1550nm又は850/1310nm)  ⇒測定時間の短縮・検査業務フローの簡素化
   ・他機能多数  

   <仕様>  
   品番  OP710-8ILRL-1315  OP710-12ILRL-1315    OP710-12ILRL-8513  OP710-24ILRL-8513 
   対象ファイバ SMF  GI50/125・62.5/125
   芯数※1 8 12  12 24 
   測定波長  1310nm/1550nm   850nm/1300nm(1050nm) 
   IL測定レンジ 0-72dB 0-70dB   0-55dB   0-51dB
   RL測定レンジ 14-67dB 14-65dB  14-45dB
   光源出力  +10dBm Laser -16dBm LED
   光源ポート数
   安定性 0.005dB(10分)/0.03dB(8h) 0.005dB(10分)/0.03dB(8h) 
   IL測定精度 ±0.03dB(代表値※2≦0.01dB)  ±0.05dB(代表値※2≦0.02dB) 
   RL測定精度 ±0.5dB(60dB以上は±1dB)  ±0.5dB(35dB以上は±1dB) 
   測定時間 2秒※3   
   システム外寸  EIA規格6Uラック  EIA規格9Uラック 
   測定規格 反射減衰量:カプラ法(JIS C5961-7.2) 挿入損失:挿入法(JIS C5961-7.1)   
   コネクタ振動
 変化検出速度
10サンプル/秒/ch   
   有効OS Windows7/8.1 
   
   ※1 表記以外の芯数でも対応可能。
   ※2 基準値測定後10分以内に測定した場合の最大値。
   ※3 DUT接続後の測定開始から終了までの時間。無反射終端処理時間含まず。2波長測定時は8秒程度。
   ※4 光源出力とポート数によって測定レンジが変わります。

全芯リアルタイム測定
予め設定した閾値を超えると赤く表示されます。
(マウスポインタをを画像に向けてみて下さい。)
調心等で赤表示が消えたタイミングで測定! 測定データはエクセルで展開可能なcsvファイルに保存されます。

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