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ホーム>光デバイス評価システム/光測定器>ファイバN.A/Encircled Flux測定器
  ファイバN.A/Encircled Flux測定器 〜OP1021シリーズ〜
NFP/FFP測定により、光ファイバのNAやEncircledFluxを測定

  < 用途 >
   各種光ファイバのNA測定に。
   GIマルチモードファイバの励振状態を定義するEncircled Flux測定に。IEC61280-1-4に準拠した測定方法。
   光ファイバのニアフィールド・ファーフィールド測定に。

  < 構成 >  
   ・測定器本体 ・・・ニアフィールドスキャナ・ファーフィールドスキャナ・850nm/1310nmLED光源
   ・制御ソフト ・・・OPL-LCAソフトウェア for Windows
   
    ニアフィールドの測定原理 ファーフィールドの測定原理
       
  ニアフィールドスキャン ・・・ファイバ端から入射された光は対物レンズを経由し、光の濃淡を均一に広げます。
     ピンホールされた受光部は走査しながら光強度をスキャンし、モードフィールド径や
        EncircledFluxを測定します。
  ファーフィールドスキャン ・・・ファイバ端から広がった光を受光部が弧を描きながら走査します。
     受光部には100umコアのファイバが装着され、−0.5から+0.5ラジアンの範囲でNAを測定します。

  < ラインナップ >   OP-1021
  ニアフィールド ファーフィールド
  スキャンレンジ -150um to +150um -0.5NA to +0.5NA
  絶対確度 1%(+2um) ±0.045NA
   走査速度 60秒 60秒
   走査角度 -45度 to +45度
  走査分解能 0.2um 0.018rad(±0.004NA)
   受光レンジ  +20dBm to -45dBm
   測定波長範囲 標準850nm〜1700nm (リクエストにより450〜1100nmタイプ有り)
  光インターフェース  φ2.5mmフェルール
  動作温度 0〜50℃
  内臓LED光源 850nm/1300nm ino 105umファイバ、出力-16dBm 
   外部通信 USB
  外形寸法/重量  横482mm x 高さ132mm x 厚さ300mm

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