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ホーム>光デバイス評価システム/光測定器>光瞬断(ドロップアウト)測定システム
  光瞬断(ドロップアウト)測定システム 〜OP1100シリーズ〜
光デバイスの機械試験における光瞬断(ドロップアウト)を測定します。

  < 製品概要 >
   各種光パッシブ・デバイスの光学機械特性試験を簡単に行う為の測定システムです。
   光伝送状態の瞬断(ドロップアウト)を測定します。
   「TIA/EIA-455-32A(FOTP32)Fiber Optic Circuit Discontinuities」に準拠した測定器です。

 
< 機能・特長 >
 ・多チャンネル(4〜24ch)同時測定が出来ます。
 ・最小0.2μsecの時間分解能で測定出来ます。
 ・全データをExcelファイルに記録出来ます。※1

<仕様>
  品番中のxxにはチャンネル数、yyにはコネクタ種が入ります。
 品番  OP1100-xx-yy
 受光部  80um-InGaAs
 適合ファイバ  SMF〜100/140GI
 チャンネル数(xx)  4, 8, 12, 16, 24
 パワーレンジ(dBm)  −3 to -36
 絶対確度  ±5%※2
 対応波長(nm)  850〜1650
 校正波長(nm)  850, 980, 1310, 1490, 1550, 1625
 校正トレーサビリティ  U.S. N.I.S.T.
 計測設定時間  0.5μsec〜1sec
 サンプリングレート  0.4μsec以下 (Typ.0.2μsec)
 光瞬断損失設定範囲  0.5dB〜3dB 
 測定データバッファ  1,000データ/チャンネル
 光コネクタポート(yy)  SC又はFC
 使用温度  0℃ to +50℃
 保管温度  -15℃ to +70℃
 外形寸法/重量  482(W) x 100(H) x 320(D)mm 19インチラック2U(又は4U)サイズ / <4kg
 外部制御  USB1.1/2.0

 ※1:専用ソフトウェアとWindow XP/7搭載パソコンが必要です。
 ※2:N.I.S.Tトレーサブル(-10dBm@1310nm校正基準値)

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