「多心を一心ずつ測定するのは手間がかかる。」
そのお悩み、解決します！
概要
国内大手光デバイスメーカー様の研究開発部では多心光導波路デバイスの損失測定を一心ずつ行わなければならず、手間と時間がかかっていました。
そこで長期信頼性試験システムを導入。測定時間が短縮され、デバイスの開発が迅速化しました。
| 製品名 | 多心一括測定システム |
| お客様の主な業種 | 光デバイス研究開発 |
| 主な業務内容 | 多心の光導波路デバイスの開発および研究 |
- 多心の一括測定による時間短縮を実現
- IL/RL/クロストークを測定可能に
- デバイス開発はスピード感が命
1. 多心の一括測定による時間短縮を実現
12心や24心を一心ずつ測定するのは一定の時間がかかり、時間と手間のかかる工程です。
当社の光測定システムを導入すれば、全心を一括測定することができ、時間短縮になります。時短で人件費を削減するだけでなく、コネクタ接続や記録の間違いによる人的エラーを低減することもできます。
本システムでは、全心の接続を完了し、再度確認した後に実行ボタンを押して測定を開始します。「コネクタの取り違えや順番の間違いが起きにくく、以前と比べ格段に作業しやすい」と作業者様にも好評です。
時短だけでなく、再現性が高く、安定性に優れた測定システムであることもご導入の決め手となりました。
2. IL/RL/クロストークを測定可能に
従来は、単心用ハンディ型の光源とパワーメータを使用していたため、光デバイスの挿入損失（IL)しか測定できませんでした。据置型の安定化光源とパワーメータを組み込んだ本システムでは、光コネクタの反射減衰量（RL)やクロストークも測定できるようになり、活用の幅が広がりました。
特に光導波路を扱っている場合、クロストーク（光の漏話）は大きな課題です。クロストークを測定することで、デバイス開発の信頼性が高まりました。精度と正確性の高い測定を行っていることで、クライアントからの信頼性の向上が期待できます。
ソフトウェアは日本語、出力データはエクセルで扱えるCSV形式のため、誰でも簡単に使うことができます。試験項目やソフトウェアの仕様はご用途、ご要望に合わせることができます。
3. デバイス開発はスピード感が命
測定にかかる時間は開発全体のスピードに大きく影響します。本システムでは、仕上がったデバイスをすぐに測定にかけて良し悪しを判断することができます。測定結果をすぐに次のアクションに反映させることができ、開発全体のスピードアップに貢献しました。
お客様から、うれしい声をいただきました。
「クライアントへの情報提供がスムーズになり、そのスピードの変化には時折、驚かれるほどです。
従来の方法では、目には見えない機会損失があったのだと感じます。」
「今では市場から取り残されるという心配もなく、目の前の素材と向き合い、より良いものを作ることに専念できています。」
- 書類作成についても適切にアドバイスいたします。
製品の導入の事前、事後に様々な書面を各所に提出する必要のあるお客様もいらっしゃいます。お客様のご要求をヒアリングし、研究や業務の内容を深く理解することで、製品の仕様についてのアドバイスや書面の作成に関わるお手伝いも致します。
研究機関や大手企業との多数の取引実績をもとに、適切なアドバイスをいたします。お困りのことは何でもご相談ください。
| 製品名 | 多心一括測定システム |
| ご予算（目安） | 600万円 |
| 他に対応可能な測定 | シャッフルケーブル、 リアルタイム測定、 または複数試験の組合せが可能です。 |
お問合せの際は、測定項目（ILのみ/ILとRL）、ファイバ種（SM/MM）、チャンネル数（心数）、測定レンジ等のご希望を添えていただくとスムーズにご案内いたします。
