NFP/FFP測定により、光ファイバのNAやEncircledFluxを測定
用途
- 各種光ファイバのNA測定に。
- GIマルチモードファイバの励振状態を定義するEncircled Flux測定に。IEC61280-1-4に準拠した測定方法。
- 光ファイバのニアフィールド・ファーフィールド測定に。
構成
- 測定器本体・・・ニアフィールドスキャナ・ファーフィールドスキャナ・850nm/1310nmLED光源
- 制御ソフト・・・OPL-LCAソフトウェア for Windows
ニアフィールドの測定原理 ファーフィールドの測定原理
ニアフィールドスキャン・・・ファイバ端から入射された光は対物レンズを経由し、光の濃淡を均一に広げます。ピンホールされた受光部は走査しながら光強度をスキャンし、モードフィールド径やEncircledFluxを測定します。
ファーフィールドスキャン・・・ファイバ端から広がった光を受光部が弧を描きながら走査します。受光部には100umコアのファイバが装着され、－0.5から＋0.5ラジアンの範囲でNAを測定します。
